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IC卡芯片檢測設(shè)備

更新時間:2024-08-18

簡要描述:

IC卡芯片檢測設(shè)備 本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1,國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; 符合以上標準。

免費咨詢:0513-81526002

我公司專業(yè)生產(chǎn)、研發(fā)和銷售物理力學性能試驗設(shè)備,公司生產(chǎn)的力學試驗機系列產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于各種行業(yè)做理化檢測之用。是專業(yè)研發(fā)、設(shè)計、制造的IC卡動態(tài)反復彎曲扭轉(zhuǎn)試驗機生產(chǎn)廠家。本產(chǎn)品適用于軌道交通卡、保險卡、智能卡、地鐵卡、通訊卡、公交卡、會員卡等系列的反復彎曲扭轉(zhuǎn)試驗,主要用于大專院校、科研單位、質(zhì)量檢測中心、企業(yè)單位品質(zhì)檢測部門、實驗室等的物理力學性能、工藝性能的測試和分板研究,深受廣大用戶青睞。


復件 (2) HY(IC)動態(tài)彎扭試驗機.jpg

IC卡芯片檢測設(shè)備用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。

IC卡芯片檢測設(shè)備本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1,國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; 符合以上標準。

IC卡芯片檢測儀器技術(shù)參數(shù):

外形尺寸:L670 X W380 X H220

儀器重量:70kg

電 壓:AC220V±5%

功 率:35W

測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測試周期:1~9999次

扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°,總扭曲角度30°

長邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊小位移量為2mm±0.50mm,

短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊小位移量為1mm±0.50mm,

IC卡彎扭試驗機夾具安裝尺寸按照國家標準執(zhí)行。


儀器加罩前的尺寸是:

長:74.5cm,寬:38cm  高:30cm

儀器加罩后的尺寸是:

長:78cm,寬:42.5cm  高:30cm

 


 

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